PRODUCT 製品情報

CBS試験装置

概要

半導体パワーデバイスを対象とした常温バイアス試験装置です。
パワーデバイスに直流電圧を指定時間印加して、その印加時間中に繰り返しリーク電流を測定します。指定時間中のリーク電流の変化を時系列的に調べることが可能です。

主測定評価項目

コンタクトチェック/IRRM/ICES
IDSS/IGES(ゲートリーク)

対象素子

Di/IGBT/MOSFET モジュール
(1 ~2素子/1製品)

最大定格

電圧 2000V

機能

  • 印加時間は、9999sec まで設定でき、印加電圧をモニターしながら各デバイスのリーク電流を1sec 毎にロギングでき、取得データはPC 画面上にグラフ表示されます。
  • 一度に最大20 台のデバイスを試験することができ、印加電圧をモニターしながら、同時に10 台ずつ交互にリーク電流を繰返し測定していきます。
  • 測定結果は ランク付けが可能で測定データは製品と一対一対応して記録できます。また、画面上にランク表示され各デバイスのランク・Failの状態が一目で確認できます。
  • 試験中に製品破壊・リーク電流異常が発生した場合は、自動的に異常箇所の製品を切り離して試験を再開します。その際、電圧印加中のリレーOFF による切り離しではなく、過電流やリレーOFF 時のアーク放電による溶着・損傷や誤動作などを防ぐために、過電流検出による主電源VCC の即遮断や回路系の放電処理を行い、安全な状態にしてから対象箇所の切り離しを行っています。また、回路系のリレーチェック機能もあります。
  • 測定プログラムは本体装置以外のパソコンでも編集でき、テスト条件は、測定条件パラメータを入力するのみです。
  • プログラム編集はパスワード管理されており、不用意な変更が行われないようになっています。 下記3 つのモードの切換が可能です。
     USER 通常の測定のみ ( 変更不可)
     TECH 一時的条件変更が可能
     STAFF  条件変更が可能
  • 主な仕様
    VCC supply 50 ~ 2000V/0.6A CVCC 電源
    VGE supply ±30V/500mA
  • 検出: 電流検出 2 レンジ / 20ch( 高圧用) : 1 レンジ / 20ch( 低圧用)
    電圧・電流・チャンネル数に関しましては、お客様のスペックに見合う
    ようカスタマイズ致します。
  • オプション
     AAPI システム
     (装置の校正システムであり、精度確認を行うことができます。)

 

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