PRODUCT 製品情報

静特性試験装置

概要

パワーモジュールを対象とした静特性測定器です。

対象素子

IGBT MOSFET IPM Diode

主測定評価項目

IGBT MOSFET

  • コンタクトチェック
    漏れ電流    ICES
    降伏電圧    VCES
    ゲートリーク  ±IGES
    閾値電圧    VGE(th)
    飽和電圧    VCE(sat)
    順電圧降下   VEC

Diode

  • コンタクトチェック
    漏れ電流    IRRM
    降伏電圧    VRRM
    飽和電圧    VF

IPM

  • コンタクトチェック
    漏れ電流    ICES
    降伏電圧    VCES
    飽和電圧    VCE(sat)
    順電圧降下   VEC
    回路電流    ID
    制御電圧低下保護 UVtrip/reset
    入力閾値    th
    入力漏れ電流  ILEAK
    エラー出力電流 IFo
    エラー出力電圧 VFo

最大定格

電圧 2500V
電流 1200A

機能

  • 測定プログラムは本装置以外のパソコンで編集できます。
  • テスト条件は、測定条件パラメーターを入力するのみです。
  • パスワード入力で操作モードが切替え可能です。
    USER 測定のみ ( 変更不可)
    TECH 一時的条件規格変更が可能
    STAFF 条件規格変更が可能
  • テスト条件を自動に測定を行います。
      1 プログラム最大100 項目まで実行
  • 測定モード
    自動測定/ シングル測定/ ステップ測定
    自動測定 すべての項目
    シングル測定 選択された項目
    ステップ測定 1 項目の条件違いの測定
  • 測定はALLTEST モードとFAIL STOP モードがあります。 
  • 測定データを解析しPASS/FAIL を判定します。
  • グラフ化機能 
    測定結果を項目ごとにグラフ化されます。
  • 試験結果はすべてCSV 形式にて保存されます。
  • オートレンジ
    微小検出電流の最適レンジ機能
  • 同時測定
    飽和電圧の2 素子同時測定
  • 測定回路はマトリック構成のため任意に設定
    パワー出力端子 14 端子
    センス端子   16 端子
    制御端子    32 端子
  • オプション
    AAPI システム
    AAPI システムを使用することにより装置の精度確認が
    容易にできます。

 

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