PRODUCT 製品情報

波形解析機能
(項目は下記ご参照ください)

動特性試験装置

概要

半導体パワーデバイスを対象としたL負荷時や短絡負荷時の動特性試験装置です。忠実に再生した動作波形の各電圧・電流を、デジタルオシロスコープと連動してデジタルデータとして取り込みます。波形データを解析・演算し、様々な動特性項目の測定値、及び各波形を出力します。さらにデジタルオシロスコープの波形も観測が可能です。また、主電圧VCCの遮断機能を有します。試験中に製品破壊など異常が発生した際は即時遮断を行い、大電流が流れることを防ぎます。オプションにて三相正弦波PWM制御による擬似負荷試験も可能です。

対象素子

IPM/IGBT モジュール(1 ~ 8 素子/1 製品)

主測定評価項目

温度測定/ コンタクトチェック/ ゲートチェック(IGBT)
tger(IGBT)/ 短絡/ L 負荷SW/RBSOA/L 負荷SC(IPM)
OC / SC(IPM/VRTC(IGBT/Vsence(IGBT)))
/ 擬似負荷(オプション)

最大定格

電圧 1350V
電流 5000A

機能

  • ①各測定値は各電圧・電流のデジタルデータを解析・演算機能処理によって出します。
  • ②測定中に製品が破壊したら、破壊モードを高速検知し、主電圧VCC パ ワー遮断が可能です。
    破壊モード 短絡破壊/ リカバリー破壊/ ラッチアップ破壊/アバランシェ破壊/OFF ロス破壊など
  • 主な仕様
    VCC supply 50 ~ 1350V/10A CVCC 電源
    VGE supply ±25V/500mA 8 ユニット
  • 負荷
    L 負荷  7 レンジ自動切替
  • R 負荷  7 レンジ自動切替
    短絡負荷 ショートマトリックス自動切替
    擬似負荷 3 レンジ自動切替(オプション)
  • オプション
    AAPI システム(定期校正システム)

 

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